| Titel | Messung von Verschleiß und Reibung mittels Dynamischer und Reibungs-Kraftmikroskopie |
| Autor | J.-E. Schmutz, T. Meier, Hendrik Hölscher |
| Infos zum Autor | Autorenanschrift: J.-E. Schmutz*, T. Meier, Hendrik Hölscher Institut für Mikrostrukturtechnologie, Karlsruher Institut für Technologie (KIT) *Center for Nanotechnology (CeNTech), Westfälische Wilhelms-Universität Münster |
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| Datum | 2013 |
